Wyniki 1-3 spośród 3 dla zapytania: authorDesc:"DARIUSZ STANASZEK"

Pomiar szumów małej częstotliwości diodowych detektorów podczerwieni


  Jednym z najważniejszych parametrów użytkowych detektorów jest wykrywalność (D*). W przypadku półprzewodnikowych detektorów podczerwieni parametr ten jest określony przez sprawność kwantową i szumy stosowanego przyrządu. Dla detektorów niezasilanych - wykrywalność określa się w odniesieniu do szumu termicznego detektora. W artykule opisano metodykę pomiaru szumów małych częstotliwości detektorów diodowych, którą zastosowano do detektora HgCdTe produkcji firmy VIGO System (typ MWIR). Wyniki pozwalają opisać szumy 1/f detektora na poziomie ilościowym oraz formułować wstępne wnioski dotyczące natury tych szumów. W przypadku detektorów fotowoltaicznych można zwiększyć wartość D* stosując zasilanie w kierunku zaporowym. Wtedy D* określa się w odniesieniu do szumu śrutowego, którego wartość jest 2-krotnie mniejsza niż szum termiczny detektora niezasilanego. Dla detektorów HgCdTe, których wykrywalność określa się względem szumu generacyjno-rekombinacyjnego procesów Augera, zasilanie w kierunku zaporowym jest szczególnie atrakcyjne, gdyż umożliwia dławienia tego procesu (i związanych z nim szumów g-r) przez redukcję koncentracji swobodnych nośników ładunku [1]. Dodatkową zaletą stosowania zasilania w kierunku zaporowym jest wzrost szybkości odpowiedzi fotodiody [2]. W warunkach nierównowagowych pojawiają się jednak nadmiarowe szumy typu 1/f, które zmniejszają wykrywalność detektora dla wolnozmiennych sygnałów. Jedynym sposobem wyznaczenia wartości D* są wtedy pomiary szumów detektora w zakresie małych częstotliwości, gdyż obecnie brakuje powszechnie akceptowanej teorii, którą można stosować do opisu tych szumów. Pomiary szumów 1/f detektorów mają zatem cel nie tylko praktyczny, lecz także aspekt poznawczy zakładający identyfikację źródeł szumów małej częstotliwości i określenie ich korelacji z budową, technologią i warunkami pracy detektora. Układ pomiarowy Zastosowano konfigurację pomiaru prądu szumów. Fluktuacje id = iD - ID (p[...]

Niechłodzone i minimalnie chłodzone detektory średniej i dalekiej podczerwieni nowej generacji

Czytaj za darmo! »

Konieczność chłodzenia kriogenicznego jest główną przeszkodą na drodze do szerokich zastosowań techniki w zakresie średniej (3...8 µm) i dalekiej (8...16 µm) podczerwieni. Podstawową cechą nowej generacji fotodetektorów promieniowania podczerwonego pracujących w obu zakresach widmowych jest efektywna praca bez konieczności chłodzenia kriogenicznego. Polską specjalnością badawczą[...]

Optymalizacja epitaksji i doskonalenie architektury detektorów podczerwieni z HgCdTe

Czytaj za darmo! »

Technika podczerwieni znalazła trwałą pozycję w zastosowaniach militarnych, lotniczych i kosmicznych, a obecnie następuje gwałtowny rozwój zastosowań cywilnych [1,2]. Podstawowym elementem każdego urządzenia techniki podczerwieni jest detektor promieniowania podczerwonego, który decydująco wpływa na walory użytkowe urządzeń. Wysokie wykrywalności bliskie do fundamentalnych granic określonych przez kwantowy szum promieniowana i wysokie szybkości działania mogą być osiągnięte tylko przy użyciu detektorów fotonowych (fotodetektorów). Szczególne znaczenie dla rozwoju detektorów ma tellurek kadmowo-rtęciowy (Hg1-xCdxTe), materiał, który umożliwia konstrukcję detektorów o optymalnych właściwościach dla każdej długości fali w zakresie bliskiej, średniej i dalekiej podczerwieni [1-5].[...]

 Strona 1