Wyniki 1-10 spośród 11 dla zapytania: authorDesc:"MICHAŁ TADEUSIEWICZ"

Finding parametric characteristics in diode-transistor circuits

Czytaj za darmo! »

The paper is devoted to the analysis of transistor circuits having multiple DC solutions. A method for tracing multivalued parametric characteristics expressing output signals in terms of some parameters is offered. The proposed approach utilizes the previously developed method for finding all the DC solutions of circuits containing the Ebers-Moll modeled transistors and the Newton-Raphson algor[...]

Finding operating points of the diode-transistor circuits via homotopy approach

Czytaj za darmo! »

The paper is devoted to DC analysis of circuits containing diodes and the Ebers-Moll modelled transistors. The basic question, how to find efficiently the operating points is considered. For this purpose a method is developed, based on the homotopy idea and the Padé approximation of the diodes characteristics. Two numerical examples are given confirming efficiency of the method. Streszczenie. W[...]

Zastosowanie koncepcji homotopii do analizy DC układów tranzystorowych z uwzględnieniem zjawiska samonagrzewania

Czytaj za darmo! »

Efektywne obliczanie punktu pracy (rozwiązania DC) obwodu nieliniowego jest fundamentalnym problemem analizy i projektowania układów elektronicznych. Problem ten występuje szczególnie jaskrawo w obwodach zawierających tranzystory bipolarne, ze względu na charakter nieliniowości opisujących ich równań. W celu wyznaczenia punktu pracy najczęściej stosowana jest metoda Newtona-Raphsona i różne [...]

Wyznaczanie statycznych charakterystyk w układach tranzystorowych z wykorzystaniem symulatora analizy dynamicznej SPICE

Czytaj za darmo! »

W teorii i analizie nieliniowych układów elektronicznych ważną rolę odgrywają różnego rodzaju charakterystyki statyczne. Określają one zależności pomiędzy sygnałem wyjściowym (napięciem lub prądem) a pewnymi parametrami typu rezystancja, stałe opisujące diodę lub tranzystor, a także napięcie lub prąd wejściowy.Wtym ostatnim przypadku mamy do czynienia z charakterystykami wejściowymi lub przej[...]

Analiza układów nieliniowych o wielu rozwiązaniach DC

Czytaj za darmo! »

Praca dotyczy analizy nieliniowych układów analogowych o wielu punktach równowagi (rozwiązaniach DC). Przedstawiono prostą metodę pozwalającą wyznaczyć niektóre z tych rozwiązań, opartą na idei charakterystyk testowych. Zdefiniowano cztery rodzaje charakterystyk testowych. Zaproponowano wykorzystanie tej metody w algorytmie gwarantującym znalezienie wszystkich rozwiązań DC oraz zamieszczono przykład liczbowy potwierdzający skuteczność tego rodzaju podejścia. Abstract. The paper deals with nonlinear circuits having multiple equilibrium points (DC solutions). A simple method enabling us to find some of the multiple DC solutions is developed. It is based on the idea of test characteristics. Four types of the characteristics have been defined. The proposed method can be combined with an [...]

Finding all the DC solutions of circuits containing diodes and bipolar transistors

Czytaj za darmo! »

Finding multiple DC solutions of nonlinear circuits is a basic question of the analysis and design of electronic circuits. In the past three decades numerous methods in this area have been proposed [1-14]. Since the problem of finding all the DC solutions is very difficult, only rather small-scale circuits can be efficiently analyzed, even in the case of the circuits with constant parameters, where the thermal constraint of the chip is ignored. The paper [15] brings an algorithm enabling us to find all the DC solutions considering the thermal behavior of the chip. Its key point is a method for finding all the solutions at fixed parameters. This paper offers two methods for this purpose dedicated to the diode-transistor circuits. They can be directly used to the circuits with c[...]

Contraction and elimination methods for finding multiple DC solutions of bipolar circuits

Czytaj za darmo! »

The paper is focused on the analysis of diode-transistor circuits having multiple DC solutions and brings two methods enabling us to find the solutions, without any piecewise-linear approximations. The first method is a modification of an earlier developed method, whereas the other is new and based on an original idea. Both the methods are implemented in an algorithm that guarantees finding all the DC solutions. Numerical experiments show that the proposed approach is efficient, the analysis is improved and the computation process is speeded up. Streszczenie. Artykuł dotyczy analizy układów diodowo-tranzystorowych o wielu rozwiązaniach stałoprądowych. Zaproponowano dwie metody umożliwiające wyznaczanie tych rozwiązań bez konieczności stosowania aproksymacji odcinkowo-liniowej. Metody [...]

Szybka metoda wyznaczania wielowartościowych charakterystyk w układach nieliniowych


  Nieliniowe charakterystyki typu wejście-wyjście, a także charakterystyki parametryczne odgrywają ważną rolę w układach elektronicznych [1-3]. Charakterystyki wejściowo-wyjściowe wyrażają relacje między sygnałami będącymi prądem lub napięciem, podczas gdy charakterystyki parametryczne określają sygnał wyjściowy w funkcji pewnych parametrów typu rezystancja, współczynnik źródła sterowanego, temperatura itp. W niektórych zastosowaniach omawiane charakterystyki są niezbędne do realizacji celów projektowych układów nieliniowych.Najprostsza koncepcja wyznaczania charakterystyk polega na zastosowaniu ktorej. z metod gwarantuj.cych znalezienie wszystkich rozwi.za. DC, np. [4.12], dla ro.nych warto.ci zmiennej niezale.nej. Jednak tego typu podej.cie jest niezwykle czasoch.onne i mo.e by. stosowane tylko do bardzo prostych obwodow. Istnieje kilka innych metod wyznaczania wielowarto.ciowych charakterystyk, np. [13.17]. Wi.kszo.. z nich wymaga odcinkowo-liniowej aproksymacji funkcji opisuj.cych elementy obwodu. Inne cz.sto zawodz. w okolicach ostrych punktow zagi.cia charakterystyk. Zarowno charakterystyki wej.ciowo-wyj.ciowe, jak i parametryczne mog. by. bezpo.rednio wyznaczane za pomoc. odpowiednich procedur programu SPICE. Niestety, symulator SPICE zwykle pomija niektore ga..zie charakterystyk oraz pokazuje nieprawid.owy histerezowy kszta.t, mimo .e rzeczywiste charakterystyki nie maj. histerezowej natury, co mo.na stwierdzi. wprowadzaj.c do obwodu cewki i kondensatory [3]. Tak wi.c problem wyznaczania charakterystyk w uk.adach nieliniowych jest nadal otwarty i istnieje zapotrzebowanie na efektywne metody w tym zakresie. W niniejszym artykule zaproponowano szybk. metod. wyznaczania wielowarto.ciowych charakterystyk obszernej klasy uk.adow nieliniowych bez stosowania aproksymacji odcinkowo-liniowej. G.own. ide. tej metody wyja.nia poni.szy przyk.ad. Rozwa.my obwod nieliniowy przedstawiony na rys. 1. Charakterystyka wej.ciowo-wyj.cio[...]

Analysis of CMOS circuits having multiple DC operating points

Czytaj za darmo! »

This paper is devoted to the analysis of the circuits containing short-channel MOS transistors, having multiple DC solutions (operating points). The transistors are characterized by the PSP model, the most advanced surface-potential-based compact MOSFET model, selected (since December 2005) as standard for the new generation of integrated circuits. This paper offers an algorithm enabling us to find multiple DC solutions and trace multivalued input-output characteristics of integrated circuits using the latest PSP 103.1.1 MOSFET model. The main idea of the algorithm is based on a single-valued driving point characteristic, called a test characteristic and the section-wise piecewise-linear approximations. The approach proposed in this paper is illustrated via a numerical example. Streszczenie. Praca dotyczy analizy układów zawierających tranzystory MOS z krótkim kanałem, mających wiele rozwiązań DC. Tranzystory są opisane za pomocą modelu PSP, najbardziej zaawansowanego, opartego na koncepcji potencjału powierzchniowego modelu MOSFET, uznanego w 2005 roku za standardowy w zastosowaniu do nowej generacji układów scalonych. W pracy zaproponowano algorytm obliczania wielokrotnych rozwiązań DC oraz wyznaczania wielowartościowych charakterystyk typu wejście-wyjście układów scalonych, z użyciem najnowszej wersji PSP 103.1.1 modelu MOSFET. W algorytmie wykorzystano pewne jedno-wartościowe charakterystyki wejściowe, zwane charakterystykami testowymi oraz uogólnioną odcinkowo-liniową aproksymację. Dla ilustracji podano przykład liczbowy. (Analiza układów CMOS o wielu rozwiązaniach DC) Keywords: CMOS circuits, DC analysis, multiple solutions, transfer characteristics. Słowa kluczowe: analiza stałoprądowa, charakterystyki przejściowe, rozwiązania wielokrotne, układy CMOS. Introduction Circuits having multiple DC solutions play an important role in electronics. The basic questions of the analysis and design of this class of circuits are finding all the [...]

 Strona 1  Następna strona »