Wyniki 1-8 spośród 8 dla zapytania: authorDesc:"ANDRZEJ KUCZYŃSKI"

Rozpoznawanie uszkodzeń parametrycznych w nieliniowych układach analogowych, przy wykorzystaniu transformacji falkowej i sztucznej sieci neuronowej


  Badanie i rozpoznawanie uszkodzeń w urządzeniach elektronicznych jest jednym z podstawowych zagadnień w zakresie produkcji niezawodnych i bezpiecznych systemów złożonych z wielu elementów. Do diagnozy błędów w cyfrowych układów elektronicznych zostały opracowane skuteczne narzędzia działające automatycznie, natomiast w diagnostyce układów analogowych nie opracowano równie ogólnych i niezawodnych technik i dlatego opiera się ona głównie na doświadczeniach inżynierów. Przegląd publikacji z dziedziny diagnostyki [1, 2] wskazuje, że są rozpatrywane dwa podstawowe rodzaje uszkodzeń: katastroficzne i parametryczne. W przypadku uszkodzeń katastroficznych, które polegają na zwarciu lub rozwarciu elementu, mamy do czynienia ze zmianą topologii obwodu. Sytuacje, w których nie zachodzi zmiana topologii obwodu, lecz wartości parametrów układu różnią się od nominalnych, nazywane są uszkodzeniami parametrycznymi. Oba typy uszkodzeń mogą powodować nieprawidłowe działanie lub nawet zniszczenie systemu, dlatego tak duże znaczenie ma precyzyjne wykonanie diagnostyki wyprodukowanych przyrządów. Skuteczną techniką diagnozowania cyfrowych układów CMOS okazało się, wprowadzone na przełomie lat osiemdziesiątych i dziewięćdziesiątych dwudziestego wieku, monitorowanie prądu spoczynkowego (test IDDQ), zasilającego układ [3, 4]. W celu przezwyciężenia pewnych ograniczeń wspomnianej metody, zastosowano śledzenie prądu zasilania w stanie nieustalonym, wywołanym komutacją testową, która polegała na skokowej zmianie napięcia zasilania [5-7]. Sukces jaki odniosła opisana metoda w badaniach diagnostycznych układów cyfrowych spowodował, że zaczęto ją stosować również w odniesieniu do układów analogowych (test IDD) [9, 10]. Jednak duża zmienność takich układów powoduje, że zagadnienie ich diagnostyki jest zadaniem trudnym i nadal aktualnym pod względem badawczym. W drugiej połowie lat dziewięćdziesiątych pojawiły się prace, w których zastosowano sieci neur[...]

Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors

Czytaj za darmo! »

In this paper, algorithm for parametric fault diagnosis of nonlinear, analog circuits containing MOS is presented. This method applies power supply current waveform IDD as an indicator of a device feature. Test signal is filtered using a discrete wavelet transform filter bank to obtain signal sensitive to changes of device parameters. Coefficients of the polynomial approximating the component are calculated and used to formulate a learning vector of a feedforward neural network. Thus, it is possible to achieve data compression without the considerable loss of information about the tested device. An illustrative numerical example is presented. Streszczenie. W pracy przedstawiono metodę wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych zawierających tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie informacje o właściwościach układu są zakodowane w przebiegu prądu źródła, zasilającego obwód w stanie nieustalonym. Sygnał testowy jest filtrowany, by uwypuklić właściwości układu. Aby zachować istotę informacji o układzie, jako wektory uczące sieć neuronową zastosowano współczynniki wielomianów aproksymujących wybrany składnik sygnału testowego. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie. (Wykrywanie uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych zawierających tranzystory MOS) Keywords: analog circuits, fault detection, discrete wavelet transform, feedforward neural network Słowa kluczowe: układy analogowe, wykrywanie uszkodzeń, dyskretna transformacja falkowa, jednokierunkowe sieci neuronowe. Introduction Faults location and detection in electronic equipment is one of the fundamental problems in production of reliable and safe electronic, multi-element systems. For diagnosis of faults in numerical electronic devices some effective and automatic procedures have been worked out. Unfortunately, diagnoses of analog circuits are mainly based on engineers' experience, since no universal and reliable techniques have been deter[...]

Rozpoznawanie uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych występujących jednocześnie, w nieliniowych układach analogowych

Czytaj za darmo! »

W artykule omówiono zasady działania opracowanego algorytmu łączącego możliwości rozpoznawania występujących jednocześnie uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych w nieliniowych, analogowych układach elektronicznych. W wyniku wstępnego przetworzenia sygnałów testowych, otrzymanych na drodze pomiaru układów zawierających założone uszkodzenia, tworzone są sygnały uczące jednokierunkową sieć neuronową aproksymującą cechy układu. W treści zamieszczono przykłady ilustrujące działanie prezentowanej metody. Abstract. This paper provides an algorithm that allows simultaneous catastrophic and parametric faults recognition in nonlinear analog circuits. First we establish dictionary containing signals measured at the chosen outputs of the unbroken and having assumed faults circuits. The mentioned signals are filtered to get important information, which will be used to learn artificial neural network to recognition the faults. The method is tested by representative examples which are described in the paper. (Simultaneous recognition of catastrophic and parametric faults in nonlinear analog circuits). Słowa kluczowe: analiza uszkodzeń, metody słownikowe, dyskretna transformacja falkowa, sztuczne sieci neuronowe. Keywords: fault recognition, dictionary methods, discrete wavelet transformation, neural networks. Wstęp Badanie i rozpoznawanie uszkodzeń w urządzeniach elektronicznych jest jednym z podstawowych zagadnień w zakresie produkcji niezawodnych i bezpiecznych systemów złożonych z wielu elementów. Do chwili obecnej w diagnostyce układów analogowych nie opracowano ogólnych i niezawodnych technik. Stosowane metody opierają się w znacznym stopniu na doświadczeniach inżynierów. Przegląd publikacji z dziedziny diagnostyki [1, 2, 3] wskazuje, że są rozpatrywane dwa podstawowe rodzaje uszkodzeń: katastroficzne i parametryczne. W przypadku uszkodzeń katastroficznych, które polegają na zwarciu lub rozwarciu elementu, mamy do czynienia ze zmianą to[...]

GA optimization of wavelet analysis of dynamic current supply applied to fault diagnosis

Czytaj za darmo! »

A wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting catastrophic faults in analog circuits is described in the paper. Some methods for improving fault detection sensitivity are proposed and verified. A special goal function for GA optimization has been formulated and tested. An algorithm for choosing the best set of continuous wavelet transform (CWT) parameters was [...]

Poprawa skuteczności wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych

Czytaj za darmo! »

Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektrycznych jest zwykle ważnym elementem procesu modelowania i projektowania. Zasadniczą rolę odgrywa tu fakt, że współczesna wiedza z tego zakresu pozwala na weryfikację systemów zarówno na etapie przygotowywania produkcji, w czasie samej produkcji, jak i w trakcie trwania procedur serwisowych i naprawczych. W przeciwieństwie do układów cyfrowych,[...]

Detekcja i lokalizacja uszkodzeń układów analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów

Czytaj za darmo! »

W artykule omówiono zastosowanie algorytmów bazujących na analizie odpowiedzi czasowej prądu zasilania do detekcji i lokalizacji uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych. Zaprezentowano prosty algorytm wykorzystujący procedury ewolucyjne do wyznaczaniu zaakresu zmienności sygnałów. Zamieszczono przykład detekcji i lokalizacji uszkodzeń układu analogowego z uwzględnieniem tolerancji. Abstract. Fault detection and localization algorithms, based on supply current transient analysis, are described in the paper. A new approach to tolerance regions calculation using genetic algorithms is presented. Numerical example illustrating fault detection and localization with tolerance is briefly discussed. (Fault detection and localization of analog circuits with tolerance). Słowa kluczowe: dia[...]

Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current

Czytaj za darmo! »

In this paper, selection of the optimum test conditions for catastrophic fault diagnosis of analog circuits containing MOS transistors is presented. The method of fault detection applies power supply current waveform IDD as an indicator of a device feature. The stimulate signal parameters and values of additional components are changed in optimization process to extend variation between the test signals for considered faults. An illustrative numerical example is presented. Streszczenie. W pracy przedstawiono dobór warunków testu w metodzie wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w układach analogowych zawieraja˛cych tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie detekcji uszkodzen informacje o własciwosciach układu sa˛ zakodowane w przebiegu pra˛du z´ródła, zasilaja˛cego obwód w stanie nieustalonym. Parametry sygnału pobudzaja˛cego i wartosci dodatkowych elementów sa˛ modyfikowane w procesie optymalizacyjnym tak, by powie˛kszyc róz˙nice mie˛dzy sygnałami testowymi odpowiadaja˛cymi rozwaz˙anym uszkodzeniom. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie. (Optymalizacja warunków testowych do wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w nieliniowych układach analogowych) Keywords: analog circuits, fault detection, discrete wavelet transform, feedforward neural network, optimization Słowa kluczowe: układy analogowe, wykrywanie uszkodzen, dyskretna transformacja falkowa, jednokierunkowe sieci neuronowe, optymalizacja Introduction Fault location and detection in electronic equipment is one of the fundamental problems in production of reliable and safe electronic multi-element systems [6], [7], [8]. For diagnosis of faults in numerical electronic devices, effective, automatic procedures have been worked out. Unfortunately, in diagnosis of analog circuits, any universal and dependable technique have not been determined yet, and therefore it is mainly based on engineers’ experience [8]. The review of papers d[...]

 Strona 1