Wyniki 1-3 spośród 3 dla zapytania: authorDesc:"JERZY KRĘŻEL"

System aktywnego zintegrowanego czujnika siatkowego do pomiaru mikropól odkształceń i naprężeń

Czytaj za darmo! »

Mikrotechnologia przeżywająca swój rozkwit umożliwiła wytwarzanie elementów w skali mikro, których funkcjonalność lub konstrukcja wymaga pomiarów bezinwazyjnych, a skala, w przeciwieństwie do skali nano, umożliwia stosowanie polowych optycznych metod pomiarowych. Prezentowane urządzenie jest czujnikiem bazującym na interferometrii siatkowej [1, 2] powszechnie stosowanej w skali makro, pozwal[...]

System aktywnego zintegrowanego czujnika siatkowego do pomiaru mikropól odkształceń i naprężeń

Czytaj za darmo! »

Mikrotechnologia przeżywająca swój rozkwit umożliwiła wytwarzanie elementów w skali mikro, których funkcjonalność lub konstrukcja wymaga pomiarów bezinwazyjnych, a skala, w przeciwieństwie do skali nano, umożliwia stosowanie polowych optycznych metod pomiarowych. Prezentowane urządzenie jest czujnikiem bazującym na interferometrii siatkowej [1, 2] powszechnie stosowanej w skali makro, pozwal[...]

Zminiaturyzowany ekstensometr siatkowy

Czytaj za darmo! »

W artykule przedstawiono koncepcję, modelowanie, wstępne badania oraz konstrukcję niskonakładowego zminiaturyzowanego ekstensometru siatkowego. Urządzenie przeznaczone jest do pomiaru mikropól przemieszczeń i odkształceń w dużych konstrukcjach inżynierskich. Czujnik bazuje na interferometrii siatkowej wg koncepcji R. Czarnka, w przypadku której wymagana jest integracja siatki dyfrakcyjnej na powierzchni badanego elementu. Uzyskanie niskonakładowego urządzenia możliwe jest dzięki replikacji głowicy pomiarowej, będącej monolitycznym blokiem generującym i prowadzącym wiązki oświetlające obiekt. Abstract. In the paper, the concept, numerical modeling, preliminary experimental data and the construction of low-cost miniaturized grating extensometer are presented. The device is designed to measure small fields of displacements and strains in large civil structures. The sensor is based on grating interferometry according to R. Czarnek's concept, in case of which the integration of diffraction grating on examined surface is required. Fabrication of low-cost sensors is provided by means of replication of the monolithic measurement head in PMMA. (Miniaturized grating extensometer). Słowa kluczowe: interferometr siatkowy, modelowanie mikrosystemów, mikrotechnologie, wytłaczanie na gorąco, optyczne elementy polimerowe. Keywords: grating interferometer, optical microsystems modeling, microtechnologies, hot-embossing, optical polymeric structures. Wstęp Istnieje szereg narzędzi pozwalających na pomiar przemieszczeń w płaszczyźnie oraz odkształceń. Dotychczas najczęściej stosowanymi są opornościowe ekstensometry [1] pozwalające na pomiar punktowy. Charakteryzują się one liniową charakterystyką i stabilnymi właściwościami w szerokim zakresie temperatur. Duże konstrukcje inżynierskie najczęściej monitorowane są z wykorzystaniem rozproszonych czujników światłowodowych [2]. W przypadkach, kiedy punktowy pomiar nie daje wystarczającej informacji o lokaln[...]

 Strona 1