Wyniki 1-7 spośród 7 dla zapytania: authorDesc:"MARIUSZ KOLASIK"

Badania degradacji warstw ochronnych na stykach łączników pod wpływem plazmy łuku elektrycznego

Czytaj za darmo! »

Stosowanie metali szlachetnych do pokrywania powierzchni stykowych w aparatach łączeniowych jest uzasadnione poprawieniem ich właściwości eksploatacyjnych. Badania potwierdzają skuteczność tego zabiegu [1]. Obecnie do nanoszenia warstw ochronnych z metali szlachetnych wykorzystuje się różne metody, m.in. metodę galwanizacji. W procesie tym styki miedziane aparatu łączeniowego pokrywane są na[...]

Badanie właściwości powłok ochronnych naniesionych metodą jednowiązkowego dynamicznego mieszania jonowego na powierzchnie styków łączników powszechnego użytku

Czytaj za darmo! »

W artykule przedstawione zostały badania rezystancji przejścia, temperatury i energii łuku palącego się w przerwie międzystykowej, w zależności od rodzaju naniesionej powłoki ochronnej. Abstract. The paper presents testing of transition resistance, temperature and energy of an arc occurring in the contact gap depending on the kind of an applied protective coating. (Testing of properties of prot[...]

Wpływ grubości powłok ochronnych ze srebra na parametry eksploatacyjne łączników powszechnego użytku

Czytaj za darmo! »

W artykule przedstawiono wyniki badań szybkości degradacji warstwy ochronnej ze srebra o danej grubości naniesionej na styki. Sformułowano odpowiednie wnioski dotyczące doboru odpowiedniej grubości pokrycia srebrem dla danych warunków pracy łącznika. Abstract. The paper presents results of testing of the damage rate of protective silver coating spread on the switch contacts. There have been for[...]

Stabilizacja temperatury pracy łączników przy zastosowaniu powłok wieloskładnikowych wytwarzanych metodą dynamicznego mieszania jonowego

Czytaj za darmo! »

Podczas pracy łącznika jego parametry eksploatacyjne pod wpływem powstającego między rozchodzącymi się stykami łuku elektrycznego ulegają znacznemu pogorszeniu. Związane jest to z degradacją powierzchni styczności, która staje się chropowata i pokrywa się warstwą nalotową. Jedną z metod poprawy właściwości styków jest galwaniczne nanoszenie warstw ochronnych wykonanych np. ze srebra. Przebieg zmian rezystancji zestykowej i temperatury pracy takiego łącznika zarejestrowanych za pomocą stanowiska do badań łączników, opisanego w pracy [1] przedstawia rys. 1. W początkowym okresie badań łącznik charakteryzuje się niską wartością rezystancji przejścia i temperatury łuku. Stan ten utrzymuje się dopóki z powierzchni styku pod wpływem palącego się łuku nie nastąpi odparowanie srebra. [...]

Badania szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników prądu przemiennego za pomocą elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej

Czytaj za darmo! »

W pracy przedstawiono wyniki badań zmian koncentracji powierzchniowej srebra zachodzących w trakcie eksploatacji w powłokach ochronnych naniesionych galwanicznie na styki miedziane łączników powszechnego użytku. Abstract. The paper presents results of investigations into operating changes in the surface concentration of silver of protective coatings electroplated onto copper contacts of commonl[...]

Zastosowanie sensorów termoelektrycznych do analizy gazów

Czytaj za darmo! »

W ostatnich latach dużo uwagi poświęcono opracowaniu mikroelektronicznych przetworników (czujników) pomiarowych różnych wielkości fizycznych i chemicznych, takich jak czujniki temperatury, ciśnienia, przyspieszenia, indukcji pola magnetycznego, natężenia promieniowania, wilgotności oraz składu chemicznego gazów. Czujniki gazów mają duże zastosowanie w przemyśle chemicznym, elektronicznym, l[...]

Model przewodności skokowej i jego weryfikacja dla nanostruktur wytwarzanych technikami jonowymi

Czytaj za darmo! »

W pracy przedstawiono model przewodności skokowego przenoszenia ładunków, zlokalizowanych w studniach potencjału, w przypadku przemiennego pola elektrycznego. Abstract: The paper presents a conductivity model of a hopping transfer of charges located in potential wells in the case of an alternating current field. (A model of hopping recharging and its verification for nanostructures formed by th[...]

 Strona 1