Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"SŁAWOMIR KULESZA"

Applicability of microwave plasma CVD and electrochemical process for deposition of diamond-related thin films

Czytaj za darmo! »

Diamond is absolutely unique among solid crystals because of its outstanding properties, such as: high thermal conductivity at room temperature, high electrical resistivity, transparency, refraction index and hardness, wide band-gap, and many others. Unfortunately, there is still a gap between potential applicability and actual usage of diamond-based devices. In fact, synthetic single-crystalline diamonds are still too expensive, whereas diamond films discussed in the paper exhibit polycrystalline structure so that their properties are significantly worse with respect to pure gemstones. In order to explore the aforementioned potential, a large variety of methods of diamond deposition has been developed for the last two decades, including for instance: chemical vapor deposition[...]

Wpływ rozdzielczości skanowania mikroskopu AFM na wyznaczone wartości geometryczne, fraktalne i statystyczne

Czytaj za darmo! »

Mikroskopy sond skanujących (SPM) należą obecnie do podstawowych urządzeń badawczych na wyposażeniu jednostek naukowych działających w różnych dziedzinach nauki, od nauk fizycznych począwszy, przez nauki chemiczne, a na naukach medycznych skończywszy. Mikroskopy te pozwalają m.in. na precyzyjne zbadanie morfologii powierzchni badanych obiektów oraz uzyskanie szeregu cennych informacji o ich właściwościach magnetycznych, elektrycznych, adhezyjnych i innych Wszechstronność badań realizowanych metodami SPM wymusza potrzebę ciągłego rozwijania i doskonalenia metod analizy otrzymywanych wyników. Można to realizować na przykład przez numeryczną i statystyczną analizę sygnałów pochodzących z obszarów skanowanych, wprowadzanie nowych parametrów (np. okresowość powierzchni, wymiar fraktalny, długość autokorelacji) charakteryzujących badane powierzchnie w różnych skalach szczegółowości, szukanie korelacji, np. między naprężeniami, odkształceniami a charakteryzującymi powierzchnię parametrami fraktalnymi. Doskonalenie technik i metodyk badawczych pozwala w nowym ujęciu badać zmiany obiektów oraz opisywać ich stany na różnych poziomach wielkości, co ma kluczowe znaczenie w obszarze szeroko rozumianej nanotechnologii i nanotribologii. METODYKA BADAWCZA Na potrzeby prezentowanej pracy przeprowadzono serię pomiarów topografii powierzchni wzorca TGT1 (NT-MDT) z zastosowaniem różnej rozdzielczości skanowania. Pomiary przeprowadzono na mikroskopie Multimode 8 (Bruker/Veeco) w trybie pracy ScanAsyst z zastosowaniem trójkątnej sondy ScanAsyst-Air (Bruker/ Veeco) o następujących parametrach nominalnych: częstotliwość rezonansowa 70 kHz, stała sprężystości 0,4 N/m, wymiary belki 25×115×0,65 μm (szerokość×długość×grubość), wysokość igły 5 μm, promień krzywizny igły 2 nm. Analizie poddano parametry statystyczne opisujące rozmieszczenie punktów na badanej powierzchni, geometrię powierzchni, stopień anizotropii oraz parametry fraktalne bada[...]

 Strona 1