Wyniki 1-7 spośród 7 dla zapytania: authorDesc:"ZBIGNIEW CZAJA"

Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym

Czytaj za darmo! »

Przedstawiono nową metodę samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych. Abstract. A new self-testing method of analog parts terminated by ADCs in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method basing on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization. (Implementation of a fault diagnosis method basing on multisampling of time response in a mixed-signal electronic microsystem). Słowa kluczowe: : lokalizacja uszkodzeń, mikrokontrolery, układy analogowe. Keywords: fault localization, microcontrollers, analog circuits. Wstęp Obecnie, prawie wszystkie urządzenia elektroniczne realizowane są jako elektroniczne systemy wbudowane, czyli systemy z "wbudowaną inteligencją". Systemy takie stosuje się niemalże we wszystkich sferach życia ludzkiego, czyli między innymi w motoryzacji, lotnictwie, medycynie, automatyce, technice multimedialnej, telekomunikacji, itd. Do jednej z istotnych grup tych systemów należą mieszane sygnałowo mikrosystemy elektroniczne (stosowane między innymi w metrologii czy w automatyce) składające się z części cyfrowej sterującej i przetwarzającej dane oraz części analogowej służącej między innymi do dopasowywania sygnałów wejściowych, np. pochodzących od czujników. Ponadto w wielu przypadkach pracą takich mikrosystemów sterują mikrokontro[...]

A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers DOI:10.15199/48.2016.11.05

Czytaj za darmo! »

A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization. Streszczenie. Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniach transformujących na bieżąco, tj. w trakcie pomiarów, próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe lokalizacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych (Metoda samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami). Keywords: self-testing, microcontrollers, Analog to Digital Converters. Słowa kluczowe: samotestowanie, mikrokontrolery, przetworniki analogowo-cyfrowe. Introduction An important group of electronic embedded systems, used among others in metrology and automation, are mixed-signal electronic microsystems. Mainly, but not only, they are more often smart sensors, which are components of wireless telemetry systems. These devices consist of a digital part responsible for the control, data processing and communication between the sensors, most often based on a microcontroller, and an analog part - an analog circuit - used for conditioning input signals, for example coming from the sensors, i.e. the amplification, filtering and adjusting these signals as required by the analog-to-digital conversion. An important f[...]

A method of measuring RLC components for microcontroller systems DOI:10.15199/48.2017.10.08

Czytaj za darmo! »

At present, wearable electronics and also - especially in medicine applications - swallowing electronics become more and more popular. Often, they are smart sensors (Fig. 1) which obtain information about the working environment and objects. They are placed in. They process, store and send the measurement data via any wireless interface to e.g. a smartfon, a tablet or a PC. Smart sensors should be energy-efficient data acquisition systems, because they either are batterypowered or they take energy from their environment (energy harvesting [1,2]). Obviously, they should be small and rather cheap. This requirement can be met by the use of microcontrollers, which are widely available low-power one-chip universal devices. Hence, a new measurement method for smart sensors based on microcontrollers and direct interfaces to impedance-based sensors modeled by two-terminal networks consisting of RLC components is proposed in the paper. The direct interface is a voltage divider [3] consisting of a reference resistor Rr working as a current-to-voltage converter and the sensor with an impedance Z (Fig. 1). Fig.1. A typical structure of smart microcontroller sensor for impedance sensors modeled by two-terminal networks The proposed structure of smart sensor The measurement method is presented on an example of a smart sensor (shown in Fig. 2) controlled by an 8-bit ATXmega32A4 microcontroller [4]. It should be underlined that each application which can run on 8-bit microcontrollers can also run on 32-bit microcontrollers. This fact makes the proposed solution universal. In the paper we describe only the measurement part of the sensor. The microcontroller has numerous well-working [5] measurement peripheral devices. In the proposed application we use one 16-bit Timer/Counter TC0, one 12- bit ADC and one AC (Analog Comparator), and also an Event System enabling hardware synchronization (triggering) between the TC0 and the ADC. Fig.2. [...]

Diagnostyka uszkodzeń analogowych Diagnostyka uszkodzeń analogowych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej

Czytaj za darmo! »

Ostatnio obserwuje się szybki rozwój i wzrost zastosowań elektronicznych systemów wbudowanych (embedded systems), które charakteryzuje wbudowana jednostka inteligentna najczęściej bazująca na mikrokontrolerze sterującym. Systemy te zdominowały już rynki: motoryzacyjny, lotniczy, telekomunikacyjny, multimedialny, sprzętu AGD, medyczny, automatyki przemysłowej, itp. Na rynku dominują systemy w[...]

A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus DOI:10.15199/48.2016.11.06

Czytaj za darmo! »

A new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for fault detection and single soft fault localization in an analog tested circuit (A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus). Streszczenie. Przedstawiono nowe rozwiązanie testera JTAG BIST przeznaczonego do testowania torów analogowych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej, w której tor analogowy pobudzany jest buforowanym sygnałem z linii TMS, a odpowiedź czasowa tego toru na ten sygnał jest próbkowana przez przetwornik A/C wyposażony w interfejs JTAG. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowym układzie badanym (Metoda testowania części analogowych analogowo-cyfrowych systemów elektronicznych wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1). Keywords: IEEE1149.1 test bus, fault diagnosis, microcontrollers, analog circuits. Słowa kluczowe: magistrala IEEE1149.1, diagnostyka uszkodzeń, mikrokontrolery, układy analogowe. Introduction The IEEE 1149.1 standard (JTAG) [1] is recently a commonly used standard for testing digital circuits, packets and systems. That is the reason of implementing the JTAG test bus in more and more nowadays manufactured medium- and large-scale integrated digital circuit. The test bus versatility makes it useful not only for testing, but also for programming and debugging e.g. FPGA and CPLD circuits, as well as microcontrollers. Thus[...]

A compact smart sensor based on a neural classifier for objects modeled by Beaunier's model DOI:10.15199/48.2017.10.14

Czytaj za darmo! »

Generally, modern smart sensors integrate analog or digital sensors with conditioning circuits (input circuitries) with communication interfaces, where data processing, data storing and communication control are made by microcontrollers (Fig. 1). Thus, the physical variables of a monitored environment, technical objects and processes are measured, processed and next send to the wireless network by a smart sensor. Fig.1. A typical structure of the smart sensor controlled by a microcontroller for objects modeled by two-terminal networks One of these technical objects is an anticorrosion coating. It can be modeled by a two-terminal network based on the Beaunier’s model [1,2]. Thank to such modeling, we can simulate these objects using well-developed tools and methods designed for electrical circuits. A smart sensor is either battery powered or fed by a power obtained with a harvesting technique. Therefore, it should be designed as an energy-efficient data acquisition system. Hence, we propose a new solution of a smart microcontroller sensor. It is based on a simple direct sensor-microcontroller interface for objects modeled by twoterminal networks, a simple measurement procedure and a neural classifier used to process and classify the measurement data. The neural classifier is especially useful for dispersed data obtained from a low accuracy microcontroller measurement system working e.g. in a difficult noisy environment. The efficiency of different versions of a minimum distance classifier was also compared. A model of the tested object As mentioned earlier, the Beaunier’s model of an anticorrosion coating, presented in Fig. 2, has been chosen. Fig.2. A tested object modeled by a two-terminal network based on the Beaunier’s equivalent circuit of an anticorrosion coating This four-parameter model represents an anticorrosion coating in its early stage of degradation, i.e. the first stage of under-film corr[...]

Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych

Czytaj za darmo! »

Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie filtru dolnoprzepustowego 3-go rzędu. Abstract. The aim of the paper is usage of the classifier with Two-Center Basis Functions for detection and localization of faults in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. Details of measurement and diagnosis procedures with use of the TCB classifier implemented in the microcontroller’s program code were presented. Construction and a method of obtaining of parameters the TCB classifier on the exemplary 3th order filter were presented. (Usage of Two-Center Basis function classifier for analog parts faults diagnosis of electronic embedded systems). Słowa kluczowe: klasyfikatory neuronowe, mikrokontrolery, układy analogowe. Keywords: neural classifiers, microcontrollers, analog circuits. Wstęp Obecnie cyfrowo-analogowe elektroniczne systemy wbudowane sterowane mikrokontrolerami, procesorami sygnałowymi czy układami programowalnymi (np. FPGA, CPLD) dominują na rynku, a informacja o środowisku roboczym i sterowanych obiektach uzyskiwana jest zazwyczaj za pomocą czujników z wyjściem analogowym [1]. Sygnały wyjściowe tych czujników, przed konwersją do postaci cyfrowej, kondycjonowane są wstępnie w torach pomiarowych w celu wydobycia istotnych cech mierzonej wielkości nieelektrycznej i dopasowania do zakresu pracy przetworników A/C. Na tym etapie przeprowadza się filtrację oraz wzmacnianie sygnału. Część analogowa musi pracować poprawnie, czyli nie wprowadzać błędów, które propagując się do części cyfrowej mogły by [...]

 Strona 1