Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"WOJCIECH TOCZEK"

Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych

Czytaj za darmo! »

Najlepszą drogą do przezwyciężenia trudności testowania złożonych systemów elektronicznych jest przyjęcie strategii projektowania dla testowania [1]. Pod tym pojęciem rozumie się każdą modyfikację układu na etapie projektowania, podnoszącą jego efektywność, ułatwiającą testowanie i redukującą koszt. Jednym z kierunków rozwojowych strategii są testery wbudowane w układ scalony, w pakiet lub s[...]

Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych

Czytaj za darmo! »

W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na programowalnym mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną weryfikację nowych metod testowania. Abstract. In the paper, an experimental test bench, based on Programmable System on Chip mixed-signal array, is presented. The use of programmable analog devices facilitates significantly the fault injection capabilities. They allow injecting a wide range of single and multiple parametric faults in the test bench, making possible the research in the area of defect oriented analog test. The dynamical reconfiguration capabilities of the circuit simplifies in cost and time the experimental validation of new test methods. (Experimental test bench for analog fault emulation). Słowa kluczowe: uszkodzenia analogowe, testowanie zorientowane na uszkodzenia, emulator uszkodzeń, diagnostyka. Keywords: analog faults, defect oriented test, test bench, diagnostics. Wstęp Celem testowania produkcyjnego jest wyeliminowanie wyrobów niezdatnych i pozyskanie informacji umożliwiającej poprawę uzysku produkcyjnego i redukcję kosztów. Układy analogowe składają się z relatywnie małej liczby elementów, typowo 50 do 100, w przeciwieństwie do układów cyfrowych, które mogą zawierać miliony tranzystorów. Liczba zacisków układu analogowego jest niewielka. Układy analogowe są obecnie w większości testowane funkcjonalnie na zgodność ze specyfikacją, za pomocą systemów automatycznego testowania ATE (ang. Automatic Test Equipment). Systemy ATE bazują na technice cyfrowego przetwarzania sygnałów. Dla każdej klasy układów istnieją zbiory testów funkcjonalnych, obszerne dla prototypó[...]

 Strona 1