Wyniki 1-5 spośród 5 dla zapytania: authorDesc:"PAWEŁ WIERZBA"

Wybrane realizacje układów detekcji czujników optycznych wykorzystujących interferometrię polaryzacyjną

Czytaj za darmo! »

Interferometria jest jedną z najważniejszych grup metod pomiarowych wykorzystywanych w nauce i przemyśle. Interferometryczne metody pomiarowe charakteryzują się wysoką rozdzielczością i dokładnością pomiaru. Pomiar za ich pomocą może być zwykle dokonywany bez kontaktu z obiektem badanym (np. pomiar drgań silnika) i bez wpływu na warunki panujące w otoczeniu obiektu badanego (np. pomiar rozkł[...]

Uniwersalne stanowisko do pomiaru termicznej stałej czasowej bolometrów

Czytaj za darmo! »

Termiczna stała czasowa jest istotnym parametrem detektorów termicznych. Określa ona szerokość pasma częstotliwości tych detektorów, zgodnie z wzorem: ( ) gdzie: τt h - termiczna stała czasowa, ωg - częstotliwość graniczna detektora. Termiczna stała czasowa wyraża się wzorem [1]: (2) gdzie: τth - termiczna stała czasowa, Gt h - przewodność cieplna, parametry materiałowe wars[...]

State-of-the-art bolometers - principles, devices, applications

Czytaj za darmo! »

Thermal detectors play an important role in many scientific and industrial applications requiring detection of infrared (IR) and terahertz (THz) radiation, in spite of the continuous progress in the field of photon detectors. Advances in micromechanics, material science and electronics have resulted in new design of both individual detectors and detector arrays. Often capable of room-temperature (i.e. uncooled) operation, these detectors yield inexpensive, compact and power-efficient measurement and imaging solutions. Principles of operation Bolometer is a thermal detector that consists of an absorber, thermal mass and a thermometer (usually a resistor) that measures radiation-induced temperature change. Operation of a bolometer is best described using Fig. 1. Radiation incide[...]

Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT


  W wyniku wzrostu szybkości pracy elektronicznych układów cyfrowych i analogowych konieczne staje się opracowanie nowych rozwiązań układów umożliwiających rejestrację sygnałów występujących w tych układach. Rozwiązania stosowane dotychczas, wykorzystujące bardzo szybkie układy analogowe i przetworniki A/C, charakteryzują się jak dotąd zadowalającą szybkością pracy i osiąganą dokładnością. Jednak ich wrażliwość na narażenia występujące w badanych układach elektronicznych jest często zbyt duża. Ponadto, obciążenie wprowadzone do układu mierzonego w wyniku dołączenia układu pomiarowego (np. sondy oscyloskopu) znacznie pogarsza dokładność pomiaru. Optyczne próbkowanie sygnałów elektrycznych może w niedługiej przyszłości stać się cennym uzupełnieniem metod akwizycji. Zaletami tej techniki są przede wszystkim: szerokie pasmo częstotliwości próbkowanych sygnałów, sięgające kilkudziesięciu GHz, oraz izolacja galwaniczna między badanym układem elektronicznym i systemem pomiarowym. Istnieje kilka technik próbkowania optycznego bardzo szybkich sygnałów elektrycznych, wykorzystujących zjawiska fizyczne wymienione w tab. 1 [1]. Tab. 1. Techniki optycznego próbkowania sygnałów elektrycznych i wykorzystywane zjawiska fizyczne Tabl. 1. Techniques of optical sampling of electrical signals and underlying physical phenomena Technika Wykorzystywane zjawisko fizyczne Próbkowanie elektrooptyczne Zmiana współczynnika załamania pod wpływem pola elektrycznego Próbkowanie fotoprzewodzące Zmiana przewodności wywołana padaniem fotonów Próbkowanie elektroabsorpcyjne Zmiana współczynnika absorpcji pod wpływem pola elektrycznego Próbkowanie magnetooptyczne Obrót płaszczyzny polaryzacji pod wpływem pola magnetycznego Wykorzystanie technik próbkowania przedstawionych w tablicy 1 jest przedmiotem prac badawczych w wielu zespołach badawczych na całym świecie. Jednym z ważniejszych obszarów badań są poszukiwania nowych materiałów o coraz lepszych [...]

Badanie cienkowarstwowego bolometru LSFO

Czytaj za darmo! »

Kontynuując prace nad nowymi technologiami i materiałami elektronicznymi opracowano cienkowarstwowy bolometryczny detektor podczerwieni wykorzystujący niestechiometryczne lantanowo- strontowo żelazowe tlenki typu perowskitu [1]. Tlenek lantanowo-strontowo żelazowy (La,Sr)FeO3 (LSFO) jest roztworem stałym tlenku lantanowo żelazowego LaFeO3 i strontowo żelazowego SrFeO3, w którym jony lantanu [...]

 Strona 1