Wyniki 1-9 spośród 9 dla zapytania: authorDesc:"WIESŁAW MADEJ"

Analiza widma błędów pomiarowych specjalizowanych cyfrowych systemów predykcyjnych


  W urządzeniach pomiarowych stosowanych do śledzenia i predykcji celu, podstawowym źródłem błędów są fluktuacje współrzędnych celu oraz błędy dynamiczne układu śledzącego [1]. Błędy te można opisać za pomocą funkcji autokorelacji: gdzie: σ2 - wariancja błędu pomiarowego odpowiedniej współrzędnej [D,ε,β]; αz, βz - współczynniki funkcji autokorelacji odpowiedniej współrzędnej. We współczesnych specjalizowanych cyfrowych systemach predykcyjnych aktualne są następujące wartości powyższych współczynników [2]: - przy błędach odległości: βz = π - przy błędach pomiaru współrzędnych kątowych: βz = 2 π Algorytm symulacji błędów Do symulacji błędów wykorzystuje się następujący algorytm [3,4]: - Na podstawie znanej funkcji autokorelacji Kz([...]

Radiolokacyjno-komputerowy rejestrator szybkich obiektów


  System pomiarowy służący do rejestracji szybkich obiektów został zbudowany z wykorzystaniem mikrokomputera IBM PC wyposażonego w kartę wejść-wyjść analogowych. System ten służy do: - zdalnego sterowania głowicą układu pomiarowego, - automatycznej obróbki sygnału zawierającego informację o przelatujących szybkich obiektach, - analizy statystycznej wyników rejestracji.System wykorzystuje radiolokacyjną stację śledzącą ZRP-1 "WAZA" pracującą z wirującą wiązką. Umożliwia on: - imitowanie fikcyjnych, ruchomych i nieruchomych celów powietrznych, - poszukiwanie i śledzenie kanałem optycznym rzeczywistych obiektów powietrznych, - poszukiwanie i śledzenie kanałem radiolokacyjnym rzeczywistych obiektów powietrznych, - odbiór i rejestrowanie echa radiolokacyjnego szybkich obiektów o kalibrze 23 mm i większym, - analizę parametrów echa i zobrazowania wartości uchyleń szybkich obiektów od punktu centralnego, - analizę statyczną wyników kilku obserwacji, - przesyłanie parametrów echa od szybkich obiektów do podglądu na odległość do 50 m, - drukowanie wyników obserwacji, - dokonanie obserwacji porównawczej uchyleń szybkich obiektów w torze rejestracji telewizyjnej. Stanowisko pomiarowe składa się z trzech elementów: zestawu śledząco-przelicznikowego, stacji oceniającej oraz stanowiska synchronizującego (rys. 1). Zestaw śledząco-przelicznikowy śledzi cel, wycelowuje armaty w punkt wyprzedzony oraz kieruje poprzez stanowiElek[...]

Realizacja odczytu współrzędnych w specjalizowanym cyfrowym systemie predykcyjnym z wykorzystaniem reprogramowalnych układów cyfrowych

Czytaj za darmo! »

Podczas modernizacji specjalizowanego systemu predykcyjnego (SSP) wielowymiarowego zestawu przeciwlotniczego powstał problem pobierania danych o położeniu obiektu latającego, wskazanego do śledzenia, które przychodzą z nadrzędnego zestawu wskazywania i naprowadzania (NZWN). Dane te są przesyłane jako współrzędne sferyczne obiektu: D - odległość, β - azymut, ε - kąt położenia. Dotyc[...]

Zastosowanie mikrokontrolera do sterowania ploterem


  Obecnie na rynku istnieje wiele wyspecjalizowanych, dokładnych i niezawodnych ploterów o różnorodnej konstrukcji. Niestety w większości przypadków są to rozwiązania stosunkowo drogie. Dlatego też zrodził się pomysł próby opracowania w pełni funkcjonalnego i taniego systemu sterowania ploterem. Jedną z dróg rozumowania może być próba wykorzystania interfejsu IEEE 1284 zwanego również portem LPT. Port LPT posiada 8 dwukierunkowych linii danych, 4 linie nadające sygnały sterujące oraz 5 linii odbierających sygnały kontrolne. Tak więc w najprostszej konfiguracji złącze zapewnia możliwość uzyskania jednocześnie 12 sygnałów wyjściowych oraz 5 sygnałów wejściowych. Fakt ten, jak i łatwość dostępu do rejestrów kontrolnych i sterujących interfejsu był powodem powstania kilku amatorskich lub komercyjnych aplikacji np.: Mach2, STEP2CNC, KCam, Master5, TurboCNC. Pozwalają one w prosty sposób sterować za pomocą jednego interfejsu LPT nawet czterema silnikami krokowymi. Silniki muszą być zasilane przez mniej lub bardziej złożone sterowniki, które wymagają trzech sygnałów sterujących: - uaktywnienie sterownika, - określenie kierunku obrotowego silnika, - sygnał taktujący kolejne kroki silnika. Poza sygnałami sterującymi dysponujemy również możliwością monitorowania sygnałów kontrolnych z wyłączników krańcowych lub wyłączników bezpieczeństwa. Rozwiązanie choć proste w realizacji i w pełni funkcjonalne, nie jest jednak pozbawione wad. Głównym problemem może być fakt ograniczonej liczby sygnałów kontrolnych, jak i ilości sterowanych silników. Należy również zaznaczyć iż standard IEEE 1284 przechodzi niejako do lamusa. Wypierany jest przez inne interfejsy takie jak standard USB czy choćby FireWire. Dlatego też niniejsza praca ma na celu próbę opracowania systemu, który pozwoli na przeniesienie realizacji funkcji sterowania ploterem na zewnątrz komputera. Rola komputera ograniczona zostanie jedynie do wysyłania poleceń kontrolnych i odbierania[...]

Mikroprocesorowy system sterowania układu imitacji chodu i biegu człowieka DOI:10.15199/13.2015.9.5


  Obecnie stosowane metody rehabilitacji osób z niedowładem kończyn lub innymi urazami uniemożliwiającymi sprawne poruszanie się opierają się głównie na wykorzystaniu urządzeń wytwarzających impulsy elektryczne do pobudzania skurczy mięśni (tzw. elektrostymulacja) [1, 2]. Opisany w niniejszym artykule projekt oparty jest na wykorzystaniu oddziaływań czysto mechanicznych na mięśnie pacjenta. Oddziaływania te mają w sposób fizyczny imitować chód człowieka. Pierwowzorem takiego podejścia jest urządzenie, które wykorzystywane było w Ośrodku Badań Kosmicznych w Moskwie w zespole prof. Mirkina. Powstało ono kilkanaście lat temu i jakakolwiek próba adaptacji tego urządzania do wspomnianych celów wymagała stworzenia niemal nowego urządzenia w oparciu o określone algorytmy działania. Pierwsze urządzenie, które powstało w oparciu o pierwowzór i wykorzystane było przy rehabilitacji [3] powstało kilkanaście lat temu. Urządzenie to zostało zbudowane na bazie cyfrowego układu reprogramowalnego MAX7064SLC44-15 firmy Altera. Sterowanie urządzenia realizowane było poprzez programowanie ustawień rejestrów z wykorzystaniem portu równoległego LPT w komputerze osobistym klasy IBMPC. Z racji tego, że urządzenie było już dość długo i intensywnie użytkowane a do sterowania wykorzystywane są stare i wyeksploatowane komputery, które należy już wymienić na nowe (w większości nie posiadające portu równoległego LPT), konieczna była modernizacja istniejącego układu na spełniający wymogi współczesności układ elektroniczny sprzężony z komputerem osobistym poprzez łącze USB. W związku z powyższym opracowano założ[...]

Logika rozmyta w diagnostyce urządzeń elektronicznych

Czytaj za darmo! »

System ekspertowy z zastosowaniem logiki rozmytej składa się z kilku podstawowych bloków [1]: - bloku fuzyfikacji (rozmywania), - bloku rozumowania, - bazy reguł, -Fuzyfikacja (rozmywanie) jest to operacja przekształcająca sygnały wejściowe z dziedziny ilościowej na wielkości jakościowe reprezentowane przez zbiory rozmyte na pods[...]

Wieloskalowy model procesu walcowania na gorąco z uwzględnieniem dynamicznej rekrystalizacji

Czytaj za darmo! »

W pracy przedstawiono zastosowanie wieloskalowej metody CAFE w symulacji procesu walcowania na gorąco. Metoda CAFE jest połączeniem Metody Elementów Skończonych (ang. FE) i Automatów Komórkowych (ang. CA). Opierając się na metodzie Automatów Komórkowych skonstruowano model 2D zjawiska dynamicznej rekrystalizacji, opisujący zachowanie materiału w skali mikro. Za pomocą podejścia typu RVE model t[...]

Możliwości charakteryzacji ogniw słonecznych przy zastosowaniu techniki punktowego indukowania prądu wiązką laserową DOI:10.15199/ELE-2014-149


  Fotowoltaika jest obecnie jedną z ważniejszych gałęzi nauki zajmującej się pozyskiwaniem energii elektrycznej ze słońca. Materiały półprzewodnikowe wykorzystywane do wytwarzania ogniw fotowoltaicznych często nie są pozbawione defektów, które w znaczący sposób wpływają na ich wydajność elektryczną. Do najbardziej niepożądanych defektów zalicza się zmiany drogi dyfuzji, wpływ lokalnych rezystancji równoległych oraz szeregowych, jakość powierzchni ogniwa. Inną sprawą są występujące w ogniwach defekty całych sektorów prowadzące do kilkukrotnego zmniejszenia wydajności prądowej tego typu ogniw. Dzięki znanym metodom możliwa jest ocena sprawności ogniwa i ulepszenie technologii wytwarzania tych ogniw. Do najbardziej znanych zalicza się metodę pomiarów charakterystyk I-V [1-2], metodę elektro luminescencji [3-4], obrazowania ogniw w podczerwieni [5], termografii lock-in [6-7], czy też modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach [8]. W niniejszej pracy wykorzystaną metodą jest nieniszcząca technika indukowania prądu ogniwa wiązką laserową [9]. Badania foto prądu z wykorzystaniem wiązek laserowych po raz pierwszy przeprowadzono w latach siedemdziesiątych [10-12]. Początkowo stosowano rozwiązanie, w którym elementem ruchomym było źródło światła, jednak z czasem zaproponowano pr[...]

Mapowanie czasu życia nośników w materiałach półprzewodnikowych z wykorzystaniem techniki modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach DOI:10.15199/48.2015.09.30

Czytaj za darmo! »

W artykule zaprezentowano tematykę bezkontaktowego mapowania czasów życia nośników w materiałach półprzewodnikowych z wykorzystaniem techniki modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach. Opisano szczegóły techniczne dotyczące realizacji stanowiska badawczego oraz wykorzystanej metody detekcji sygnału. Przedstawiono i przedyskutowano przykładowe mapy czasów życia nośników w krzemie monokrystalicznym. W pracy omówiono również sposób wyznaczania koncentracji pułapek odpowiedzialnych za skrócenie czasu życia nośników. Abstract. In the paper the issue of a noncontact mapping of the lifetimes of carriers in semiconductor materials with the MFCA method is presented. The technical details of the construction of the experimental set-up and the applied method of detection are described. Example maps of the lifetime spatial distributions in the silicon samples are shown and discussed. In the paper the way of computation of the spatial distribution of the traps responsible for the shortening of the lifetime of carriers is also presented. (Mapping of the lifetime of carriers in semiconducting materials with the modulated free carrier absorption method). Słowa kluczowe: metody nieniszczące, technika modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach, krzem, czasy życia nośników, mapowanie parametrów rekombinacyjnych. Keywords: nondestructive methods, modulation by free carrier absorption MFCA, silicon, lifetime of excess carriers, mapping of recombination parameters. Wprowadzenie Jednymi z ważniejszych parametrów materiałów krzemowych służących do produkcji urządzeń optoelektronicznych, są parametry rekombinacyjne. W znacznej mierze decydują one o wydajności produkowanych na ich bazie urządzeń. Przykładem są ogniwa fotowoltaiczne, gdzie czasy życia nośników są niezwykle istotnym parametrem. W ostatnich latach można zaobserwować wzrost zainteresowania metodami pomiarowymi mającymi na celu wyznaczanie tych parametrów [1-3]. Jedną z technik umożliwiających [...]

 Strona 1