Wyniki 1-1 spośród 1 dla zapytania: authorDesc:"WITOLD A. PLESKACZ"

Charakteryzacja komórek standardowych CMOS dla generacji wektorów testowych

Czytaj za darmo! »

Proces testowania układu cyfrowego wymaga podania na jego wejścia sekwencji wektorów testowych (krótko - testów) i obserwacji odpowiedzi układu - stanów logicznych wyjść lub poboru prądu. Ponieważ koszt testowania jest proporcjonalny do czasu jego trwania, dąży się do znalezienia możliwie krótkiej sekwencji testów, która pozwoli wykryć jak najwięcej potencjalnych uszkodzeń. Miarą jakości sek[...]

 Strona 1