Wyniki 1-2 spośród 2 dla zapytania: authorDesc:"MAREK DoBoSZ"

Wyznaczanie długości fali światła diody laserowej w układzie interferometru Michelsona ze stabilizowaną różnicą dróg optycznych

Czytaj za darmo! »

Metrologiczne pomiary przy wykorzystaniu interferometrii laserowej charakteryzują się względną niepewnością pomiaru na poziomie 10- 6. Wynika to z poziomu niedokładności wyznaczenia współczynnika załamania powietrza. Jako wzorzec długości w tych pomiarach wykorzystuje się lasery He-Ne. Lasery te emitują falę światła o długości około 632,8 nm i stabilizowane osiągają względną niestabilność dł[...]

Numeryczna korekcja błędów sygnałów pomiarowych w jednoczęstotliwościowym interferometrze laserowym

Czytaj za darmo! »

Przedstawiono podstawy teoretyczne wyznaczenia przemieszczenia reflektora pomiarowego jednoczęstotliwościowego interferometru laserowego ze szczególnym uwzględnieniem możliwych błędów pomiaru wywołanych odstępstwem sygnałów pomiarowych od teoretycznie zakładanych. Zaproponowano i zweryfikowano doświadczalnie algorytm numerycznej kompensacji błędów sygnałów pomiarowych. Abstract. Theoretical basis of homodyne interferometer measuring reflector displacement evaluation are presented. Particular attention has been paid to measurement errors caused by possible distortions of measuring signals. Algorithm of numerical correction of the measuring signals distortions has been proposed and experimentally verified.(Numerical correction of measurement errors of the homodyne laser interferometer) Słowa kluczowe: interferometryczny pomiar przemieszczeń, sygnały kwadraturowe, błędy pomiaru interferometrem, korekcja numeryczna Keywords: distance measuring interferometer, quadrature signals, interferometer measurement errors, numerical correction. Wstęp Rozwój nanotechnologii oraz zwiększające się wymagania przemysłu, co do dokładności wymiarowej wykonania produkowanych elementów powodują konieczność stosowania w procesach produkcyjnych i kontroli jakości coraz dokładniejszych przyrządów pomiarowych. Wymagania dokładności pomiaru przemieszczeń na poziomie pojedynczych nanometrów w zakresach pomiarowych rzędu setek, a nawet tysięcy milimetrów i więcej (w przypadku przemieszczeń liniowych) nie są już rzadkością. Najdokładniejszymi metodami pomiaru w tej dziedzinie są pomiary interferometryczne. W zakresach pomiarowych przekraczających pojedyncze milimetry powszechnie wykorzystuje się technikę zliczania prążków interferencyjnych. Stosowane są dwa rozwiązania: interferometry jednoczęstotliwościowe i dwuczęstotliwościowe [1]. Niniejszy artykuł dotyczy rozwiązania problemów związanych z niedokładnością pomiarową interferometrów jednoczęstotliwościowych[...]

 Strona 1